- 1대로 RoHS/ELV대응의 스크리닝부터 고도의 분석까지 커버할 수 있는 형광 X선 분석 장치 -고감도・고분해능・고계수율을 독자적인 개발로 실현한 형광 X선 검출기"Vortex®"을 탑재이로인해 비약적인 감도 향상을 실현했습니다. 또 정도관리형 소프트의 병용으로 측정 시간을 최대 1/30로 단축가능