HITACHI X-STRATA 920

제조사: HITACHI   |   제조국가: JAPAN

- 빠르고 정학한 분석: 넓은 법위의 비례계수관 검출기와 Oxford Instruments의 50watt micro-focus X-ray tube (우수한 샘플 여기를 위한 높은 강도와 작은 spot의 X-rat beam)의 조합이 최적의 감도를 제공
-간단한 원소 감별법: 이차 광선 필터를 통해 중첩 요소들의 스펙트럼을 분리
-넓은 원소 법위에 걸쳐 최적화된 성능
- X-strata 920는 800여개 이상의 데이터가 저장되어 application parameters/ methods 를 간단하게 선택
- 우수한 장기 안정성
+ 자동 온도 보정 기능이 있어서 측정기의 온도를 측정하고 변화를 보정하여 안정적인 결과를 제공
+간단하고 빠른 스펙트럼 교정 루틴을 통해 측정기의 성능 및 필요한 수정을 적용

Element Range: Atomic Numbers 13(Al) to 92(U) - with SDD 
X-ray Source: Air Cooled X-ray Tube (50kV), tungsten target
Detector: Proportional Counter or Silicon Drift Detector (SDD)
Collimators: Round, 0.3mm (options include up to six)
Sample Observation: CCD Camera
Sample Image Focus: Laser Positioning
Configuration: Top-Down
Chamber Exterior: Size varies based on configuration
Sample Stage: Fixed or Motorized XY
Interface: Desktop computer and LCD monitor
Application Software: Thin Film FP, Thin Film Calibration
(all types of thin films, max 5 layers and 10 elements)
Data Process: Microsoft Excel and Word
   
  Options
Chamber: Slotted-Chamber Design
Slotted Chamber Stage: Fixed stage or Motorized XY
Collimators: Wide range of options available
Sample Image Focus: Auto-Focus (includes laser pointer)
Secondary Filter: Cobalt Filter
Software: Calibration Options: Fundamental Paremeters (FP), minimal standards or empirical method; with traceable standards.
견적 요청
kakao
견적 요청